光有源器件研发与制造 实现高效、准确的测试,满足光通信领域的不断发展和创新!

有源芯片生产与制造

随着光纤通信技术的迅速发展,对高速、高性能的光电收发组件需求日益增长。数据中心的扩展、5G网络的建设以及云计算的普及都在推动着行业对800G及以上高速光模块的需求。为了满足这些高性能指标,半导体激光芯片、TOSA和ROSA等光电收发组件的测试解决方案必须跟上技术进步的步伐,以确保组件的可靠性和效率。

方案介绍
方案优势
相关产品

技术背景

随着光纤通信技术的迅速发展,对高速、高性能的光电收发组件需求日益增长。数据中心的扩展、5G网络的建设以及云计算的普及都在推动着行业对800G及以上高速光模块的需求。为了满足这些高性能指标,半导体激光芯片、TOSA和ROSA等光电收发组件的测试解决方案必须跟上技术进步的步伐,以确保组件的可靠性和效率。

解决方案

光电收发组件简介

光电收发组件是光通信系统中的核心,负责将电信号转换为光信号(TOSA)以及将光信号还原为电信号(ROSA)。这些组件必须具备高速传输能力和极高的信号完整性。


关键性能参数

光功率输出:半导体激光芯片和TOSA的光功率输出是影响光链路质量的关键因素。

灵敏度和波长范围:ROSA的灵敏度和波长范围直接影响接收信号的质量。

带宽与信号完整性:必须测试组件支持的最高数据速率以及信号完整性。


测试环境设置

在特定的无尘室环境中,使用先进的光谱分析仪、功率计和示波器、源表来搭建测试环境。所有设备必须经过校准,以确保测试结果的准确性。


静态和动态测试程序

静态测试:包括激光芯片的阈值电流和电压特性测试。

动态测试:进行TOSA的眼图分析和ROSA的信噪比测试。同时,执行温度和老化测试来模拟实际操作条件。

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输出功率测试:激光器的最重要参数之一就是光源的输出功率,高精度的光功率计是测试的最佳助手。

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LIV测试:我们的解决方案包括对半导体激光器芯片进行LIV测试,这是衡量激光器性能的关键步骤。通过这一测试,我们

能够绘制出光功率与电流和电压的关系,即LIV曲线,以确保每个激光器都能在最佳工作点运行。

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光谱测试:测试发光器件的光谱曲线,以确保在工作波段内激光器正常谐振。

数据分析和故障排除

通过对测试数据进行深入分析,对比行业基准来识别组件性能的偏差。制定详细的故障排除流程,以快速解决测试中发现的问题。

质量保证和合规性

确保所有测试程序符合IEEE、ITU和IEC等国际标准。执行可靠性测试和寿命预估,并对测试过程进行详尽记录,以满足质量审核的要求。

未来趋势和技术

分析新材料和设计如何影响测试解决方案,探讨高产量生产中测试自动化的趋势,以及高级调制技术对测试方法的影响。



主要优势

-准确性:高精度的测试结果,确保组件性能符合设计和制造标准。

-可靠性:通过全面的测试覆盖率,确保组件在不同环境下的稳定性。

-成本效益:优化测试流程,减少不良品率,降低生产成本。

-生产效率:通过自动化测试减少人工干预,提高生产线的吞吐量。


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