插回损测试 插回损测试

环境可靠性测试系统

可移动的一站式测量系统,支持最高可达128ch的多路同时测试

平台+模块化设计,应用扩展齐全
可移动的一站式测量系统
支持实时测量与长时间稳定性监测
支持插入损耗与回波损耗同时监测
测量误差小,测试稳定性高
支持最高可达128ch的多路同时测试 
丰富的接口配置

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产品概述

Dimension 光无源器件可靠性测试系统可以根据需求调整装配不同的模块,适用于对市面上的现有各类光无源器件的光学性能测试,环境稳定性测试,

老化实验测试。同时该测试系统为了弥补传统设备只能在固定地方定点测试的缺点,在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试模块与处理数据的上

位机都集成在箱体内部。无需担心数据处理与信息采集不及时的情况,设备可移动且独立完成整个测试任务。在生产制造测试领域的现场具有极大的优

势,是真正为现场而准备的测试设备。


主要优势

平台+模块化设计,应用扩展齐全
可移动的一站式测量系统
支持实时测量与长时间稳定性监测
支持插入损耗与回波损耗同时监测
测量误差小,测试稳定性高
支持最高可达128ch的多路同时测试 
丰富的接口配置


主要应用

符合各类标准: GR-326-CORE, GR-1435- CORE, 
GR-910-CORE, GR-1209-CORE, GR-2866-CORE, 
Verizon FOC
光无源器件的光学性能检测
长时间稳定性测试


平台+模块化设计,应用扩展方便

维度科技的11槽位OMEGA通用光学测试平台,可以兼容包含RLM系列插回损测试模块在内的多种功能测试模块,具有可热插拔、可编程、可扩展性

强、易于维护和管理、综合成本低等显著优势。支持网络、USB、实体按键等多种控制方式。


该系统集成了光开关、高稳定光源、高精度光功率计等功能测试模块,可以实现对无源器件的可靠性测试。

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可移动的一站式测量系统

该系统在外观上采用拉杆行李箱的样式,将相关测试设备与处理数据PC都集成在箱体内部,设备可移动且独立完成整个测试任务。

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设备集成度高,一套系统完成各类测试

不同于传统的测试方法,维度科技的可靠性测试系统里集成了插回损测试模块、光开关模块、光源,可完成插回损一次测量。 

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主要规格参数

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针对IL的测试,更小的误差,更高的稳定性

该项测试系统使用了更高功率与稳定的SLS光源,通过PLC进行分光,满足测试中需要的多路同时测试。该系统避开了外接光开光造成对测试稳定

均一性的干扰,也使用了更高稳定性的测试链路,完成单对单的高精度插损稳定测试。 


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性能参数

产品基本型号  RTS1112A-1FA-24
光功率计部分模块类型  单模
探测器类型  InGaAS
探测器大小  2mm
波长测试范围  850nm~1650nm
光功率测试范围  +10dBm~-75dBm aT 1550nm(不适用积分球)
线性度  ±0.05dB(+5dBm~-50dBm)
总不确定性  ±(5%+500pM)
功率分辨率  0.001dB
光源部分光纤类型  SM 9/125;Panda PMF
波长 1270、1290、1310、1330、1350、1370、1390、1410、1430、1450、1470、1490、1510、1550、1570、1590、1625、1650
波长精度  ±5nm
输出功率24小时功率稳定度  ±0.005dB
边摸抑制比  >50dB
主机部分工作电源  AC90~260V/50HZ
开机稳定时间  20分钟(储存与使用一致)  60分钟(储存与使用温度不一致)
建议校准周期  两年
工作温度  10℃~40℃
储存温度  -40℃~70℃
尺寸  OMEGA机箱:462mmX374mmX171mm


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